（12）发明专利申请
（21）申请号 CN201710652224.4 （22）申请日 2017.08.02
（71）申请人 郑州云海信息技术有限公司
地址 450018 河南省郑州市郑东新区心怡路278号16层1601室
（10）申请公布号 CN107480017A
（43）申请公布日 2017.12.15
（72）发明人 穆德学
（74）专利代理机构 济南诚智商标专利事务所有限公司
代理人 黄晓燕
（51）Int.CI
权利要求说明书 说明书 幅图
（54）发明名称
PCIE外插卡的批量测试装置及方法
（57）摘要
本发明公开了PCIE外插卡的批量测试装
置及方法，测试装置包括依次连接的处理模块、数据传输模块和测试模块，处理模块包括多个通过QPI互联的CPU，每个CPU上设置多个PCIE测试槽；所述处理模块用于对测试数据进行处理；所述数据传输模块用于测试模块与处理模块之间的数据传输，所述测试模块包括分别与数据传输模块连接的网卡测试单元和存储测试单元；所述网卡测试单元用于对网卡的测试，存储测试单元
用于对存储卡的测试。测试方法的步骤为将测试卡插入主板上对应的PCIE测试槽；根据测试卡的类型进行相应测试；显示并记录测试结果。与现有技术相比，本发明能够同时进行多数量、多种类的PCIE卡的批量测试，提高测试效率，节省成本。
法律状态
法律状态公告日
2017-12-15 2017-12-15 2018-01-09
法律状态信息
公开 公开
实质审查的生效
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公开 公开
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权利要求说明书
PCIE外插卡的批量测试装置及方法的权利要求说明书内容是....请下载后查看
说明书
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