专利名称：具有普遍适用性的集成电路芯片测试输出引脚优化
方法
专利类型：发明专利
发明人：俞洋,杨智明,彭宇,王继业,王帅申请号：CN201110387760.9申请日：20111129公开号：CN102495346A公开日：20120613
摘要：具有普遍适用性的集成电路芯片测试输出引脚优化方法，它涉及系统级芯片测试输出引脚优化方法。它为解决现有集成电路芯片测试方法未考虑被测试电路对测试电路结构产生的影响，进而造成测试电路结构复杂，测试电路硬件成本高的问题而提出。所述方法由如下几步骤实现：一：取两个相同的基准电路，并在其中一个注入故障；二：对两个基准电路施加相同的测试激励；三：观察测试响应并分别保存响应数据；四：对得到的测试响应数据进行分析；五：根据已知故障覆盖率的要求对输出引脚进行优化。本发明具有测试电路结构简单，硬件成本低的优点。本发明所述方法可广泛适用于各种组合电路并且通过改进也可以对时序电路进行输出引脚优化。
申请人：哈尔滨工业大学
地址：150001 黑龙江省哈尔滨市南岗区西大直街92号
国籍：CN
代理机构：哈尔滨市松花江专利商标事务所
代理人：张宏威
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