专利名称：测试程序优化的内存IC检测分类机专利类型：实用新型专利发明人：朱玉萍,岑刚
申请号：CN201120533664.6申请日：20111201公开号：CN202332305U公开日：20120711
摘要：本实用新型公开了一种测试程序优化的内存IC检测分类机。旨在提供一种结构简单、测试效率高的内存IC检测分类机。它包含：至少一个JEDEC托盘装上料传送模组，上料机械手，第一缓冲和预定位模组，抓取机械手，内存IC测试模组，第二缓冲和预定位模组，下料机械手，至少一个JEDEC托盘装下料传送模组，和与内存IC测试模组相连的内存IC测试系统，其中，内存IC测试模组是由多个IC测试模块阵列而形成，且按照包含相同数量IC测试模块的区域划分成多个相同的区域，内存测试系统通过电信号切换与这些相同区域的IC测试模块相连接。它不仅降低存IC测试系统的成本，而且各动作机构停留时间也会减短，提高了测试效率。
申请人：嘉兴景焱智能装备技术有限公司
地址：314100 浙江省嘉善县大云镇嘉善大道2188号3号楼1D、1E室
国籍：CN
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