专利名称：具静电储存装置之测试装置及测试方法专利类型：发明专利发明人：E·塔尔曼恩
申请号：CN200410085137.8申请日：20041002公开号：CN1604235A公开日：20050406
摘要：本发明系提供一测试装置，用于藉由一测试系统以测试待测电路单元(101)，该待测电路单元(101)具有一缓存器装置(114)，其可储存初始化资料(115)，而可藉由一储存信号(110)而馈送，一控制单元(102)用于控制该初始化资料(115)的一储存，以及一开启单元(103)用于开启至少一待测电路单元(101)，一静电储存装置(201)用于非挥发性储存该初始化数据，其系由更配置于该待测电路单元(101)中的该储存信号所提供。
申请人：因芬尼昂技术股份公司
地址：联邦德国慕尼黑
国籍：DE
代理机构：中国专利代理(香港)有限公司
代理人：陈景峻
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