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一种圆晶测试系统[实用新型专利]

2020-01-15 来源:钮旅网
专利内容由知识产权出版社提供

专利名称:一种圆晶测试系统专利类型:实用新型专利发明人:游诗勇

申请号:CN201721898763.8申请日:20171229公开号:CN207717920U公开日:20180810

摘要:本实用新型实施例提供了一种圆晶测试系统,包括:主控制器、测试机、探针台、测试通道控制模块;所述主控器分别与所述测试机、所述探针台相连以及所述测试通道控制模块相连,所述主控器为单片机,所述主控器分别与所述测试机通过连接接口进行连接,控制所述测试机并接收所述测试机的测试结果,并将测试结果传送至所述探针台;测试通道控制模块通过驱动器发出继电器驱动信号,通过控制继电器的驱动信号进行测试通道的闭合选择。应用本实用新型,可以同时测试多颗器件,提高器件的测试效率。

申请人:福建福顺半导体制造有限公司

地址:350000 福建省福州市仓山区盖山投资区内(高旺村11号)

国籍:CN

代理机构:北京科亿知识产权代理事务所(普通合伙)

代理人:汤东凤

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