专利名称：X射线荧光光谱仪的分光光路自动调试与校正系统
及方法
专利类型：发明专利
发明人：李瑞,周超,宋春苗,胡学强,袁良经,刘明博,胡少成申请号：CN201711447124.4申请日：20171227公开号：CN108152313A公开日：20180612
摘要：本发明涉及一种用于顺序式波长色散X射线荧光光谱仪的分光光路自动调试与校正系统及方法。系统包括操作界面模块、晶体架控制模块、测角仪θ轴与2θ轴高精度步进电机控制模块、探测器数据采集模块、数据图像处理模块；系统选择被测元素谱线作为标定测角仪的基准谱线，通过布拉格方程计算出晶体掠射角与探测器出射角，将测角仪的θ轴与2θ轴旋转到指定位置，通过控制安装在θ轴与2θ轴的步进电机、晶体架、探测器实现对晶体与探测器位置的自动调整，获得晶体校正因子，从而对晶体掠射角与探测器出射角进行校正。本发明实现对分光光路的远程自动调试，保护调试人员免受X射线辐射，减少对调试人员调试经验的依赖，提高调试效率与精度。
申请人：钢研纳克检测技术股份有限公司
地址：100081 北京市海淀区高粱桥斜街13号
国籍：CN
代理机构：北京中安信知识产权代理事务所(普通合伙)
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